palplatest

PAL/PLA struktuur: 

PLA ja PAL-de testimine. 1 1 1 +V . . . . . . 0 . . . y1 y2 y m x 1 x 2 x n + V Puhver AND OR . . . . . . . . . x 1 x 2 x n y1 y2 y m PAL/PLA struktuur

Näide.: 

1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Näide.

Rikke mudelid PLA ja PAL-des: 

Püsivad konstatnt rikked; Lühised; Ühenduspunktide (CP) rikked (Crosspoint Faults) ; Cp-de ilmumine AND maatriksisse; CP-de kadumine AND maatriksist; Cp-de ilmumine OR maatriksisse; CP-de kadumine OR maatriksist. Rikke mudelid PLA ja PAL-des f X f X s-a-1 s-a-0 f1 X f2 X Lühis (Short) Klassikaline rikke mudel: konstant 1 ja 0 (Stuck-at-0, Stuck-at-1, s-a-0, s-a-1) f1 X X

Püsivad konstatnt rikked PLA/PAL-s: 

1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 s-a-1 X3 s-a-1rike y1 = x1 x2 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 + x1 x2 Püsivad konstatnt rikked PLA/PAL-s

Ühenduspunktide (CP) rikked (Crosspoint Faults) . Cp-de ilmumine AND maatriksisse: 

Ühenduspunktide (CP) rikked (Crosspoint Faults) . Cp-de ilmumine AND maatriksisse 1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Liigne CP y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 x3 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 Liigne muutuja Shrinkage fault Carnaugh Map 1 0 0 0 0 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 1 0 0 0 0 0 0 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 Rikketa Rikkega

Cp-de kadumine AND maatriksist: 

Cp-de kadumine AND maatriksist 1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Puudub CP y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 y2 = x1 x2 x3 + x1 Growth fault Carnaugh Map 1 0 0 0 0 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 1 0 1 0 1 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 Rikketa Rikkega Puudub CP

Uue CP ilmumine OR maatriksisse: 

Uue CP ilmumine OR maatriksisse 1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Liigne CP y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 + x1 x2 x3 Carnaugh Map 1 0 0 0 0 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 1 0 1 0 0 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 Rikketa Rikkega Appearance fault

CP kadumine OR maatriksist: 

1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Puudub CP y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 Carnaugh Map 1 0 0 0 0 0 1 1 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 1 0 0 0 0 0 0 0 x1 0 1 00 01 11 10 x2x3 y2 Rikketa Rikkega Disappearance fault CP kadumine OR maatriksist Puudub CP

Slide9: 

Puuduvad CP-d on ekvivalentsed mõne konstant rikkega (Stuck-at-0/1), kuid lisandunud CP-d sellele mudelile ei vasta. n – sisendite arv m – termide arv k – väljundite arv (2n + k) – võimalikku ühekordset CP riket 2 - 1 - erinevat ühekordset ja kordset CP riket (2n + k)m Liiaste funktsioonide korral ei pruugi CP-rikked olla testitavad Näiteks. y1 = x1 + x2 + x1 x2 = x1 + x2 Ükstaskõik kumbale muutujale vastava CP puudumine AND maatsrisis ei ole testitav Sellele termile vastava CP puudumine OR maatriksis ei ole testitav

Testide genereerimine PLA ja PAL-le .: 

Traditsioonilised meetodid PAL/PLA-dega ekvivalentsetele skeemidele; Juhuslik testimine (Random); Kattev testimine (Exhaustive); Pool juhuslikud meetodid (Semirandom); Deterministlikud meetodid (Deterministic Methods). Testide genereerimine PLA ja PAL-le . Traditsioonilised meetodid ekvivalentsetele skeemidele. & & 1 Puudused: 1. Koonduvate hargnemiste tõttu ebaefektiivne; 2. CP rikked ei kirjeldu traditsiooniliste s-a-0/1 riketena.

Juhuslik testimine (Random): 

Juhuslik testimine (Random) & 0 0 1 1 0 1 1 0 0 0 X s-a-0 0 0 & 0 0 1 1 0 1 1 0 0 X s-a-1 1 1 0 Rikke avastamine AND maatriksis. 1 0 1 1 1 0 0/1 0/1 1 1 0 1/0 1/0 Rikke mõju viimine väljundisse läbi OR maatriksi PAL/PLA . . . Reaktsioonid Juhuslikud kombinatsioonid Puudused: 1. Väga suur testide arv, sest AND maatriksis on testidena kasutatavad ainult need kombinatsioonid kus üks AND elemndi sisend on 0 ja ülejäänud 1-d; 2. Väga suur testide arv, sest rikke mõju transport läbi OR maatriksi väljundisse eeldab, et üks sisend on 1-ks ja teiste väärtus on 0.

Kattev testimine (Exhaustive) ja pool juhuslikud (Semirandom) meetodid.: 

Kattev testimine (Exhaustive) ja pool juhuslikud (Semirandom) meetodid. PAL/PLA . . . Reaktsioonid Kõik võimalikud kombinatsioonid Puudus : Suur testide arv reaalsetel maatriksitel (näiteks – 50 sisendit 67 väljundit ja 190 termi) Kattev testimine Pooljuhuslik testimine PAL/PLA . . . Reaktsioonid Pseudo- juhuslike arvude generaator & 0 1 1 1 0 1 1 1 0 Ei kasutata juhuslikke arve, vaid ainult neid koode kus on ainult üks null.

Deterministlikud meetodid Deterministic Test Generation: 

Deterministlikud meetodid Deterministic Test Generation Spetsiaalsed algoritmid mis on orieteeritud maatriksi struktuurule ja CP-de testimisele. 1 1 1 +V x 1 x 2 x 3 0 y 1 y 2 y1 = x1 x2 x3 + x1 x2 x3 + x1 x2 y2 = x1 x2 x3 + x1 x2 Näide. Testime kas termi x1 x2 on lisandunud funktsioonis y2 CP x3 –ga. Defineerime operatsiooni: a#b = a b Rikke mõju aktiveerimine : a = rikketa testitav term b = rikkega testitav term Näide. x1 x2 # x1 x2 x3 = x1 x2(x1 x2 x3) = x1 x2 x3 Rikke mõju transport väljundisse: a = eelmise operatsiooni tulemus b = funktsioon ilma testitava termita Näide. x1 x2 x3 # x1 x2 x3 = x1 x2 x3 (x1 x2 x3 ) = x1 x2 x3 Test : x1 = 1 x2 = 1 x3 = 0 1 1 0 1/0 0 1/0 0 0 1 x3

Testitsvate PLA ja PAL-de disain. (Testable PLA Design): 

Testitsvate PLA ja PAL-de disain. (Testable PLA Design) Mida soovitakse saada ? Testimine reaalajas Concurrent testing Rikete maskeerumine Fault masking Spetsiaalne disain Special Design Isetestitavus Self-testing Testi generaator Test generation Ja Ei Ei Ja Ei Ja Ja Ei Ja Ei Vaja arvestada: Testitavuse näitajaid; Mõju originaal disainile; Nõudeid testimise keskonnale; Disaini hind.

Reaalajas testitav PAL/PLA-d I: 

Puhver AND OR . . . . . . . . . x 1 x 2 x n y1 y2 y m Reaalajas testitav PAL/PLA-d I Testitavate PLA/PAL-de näiteid f g Lisa liin TSC 1-out-of-m code checker Paarsus kontroll korras/rikkega TSC Two-rail Checker f g

Totaly Self Cheking (TSC) Two-rail Checker: 

Totaly Self Cheking (TSC) Two-rail Checker TSC Two-rail Checker f g x0 x1 y0 y1 x0 x1 y0 y1 f g 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 Kui x0 = y0 ja x1 = y1 siis f = g & & & & 1 1 x0 y0 x1 y1 f g x1 x3 x5 x6 x2 x4 y1 y3 y4 y5 y6 y2 f g f4 f1 f2 f3 g4 g1 g2 g3

Reaalajas testitavad PAL/PLA-d II (Kasutades Bergeri koodi): 

Reaalajas testitavad PAL/PLA-d II (Kasutades Bergeri koodi) Puhver AND OR . . . . . . . . . x 1 x 2 x n y1 y2 y m Lisa liinid TSC Two-rail Checker f g Kontroll koodi generaator Kontroll koodi pöörd väärtus Kontroll kood

Bergeri kood: 

Bergeri kood 0 1 1 0 1 0 1 1 Info järgud Kontroll järgud (nullide arv koodis) 011 Kontroll järkude generaator Info järgud Kontroll järgud Võrdlus- skeem Õige/vale Modifitseeritud Bergeri kood funktsioode hulgale. 0 1 0 1 0 0 1 1 x1 x2 00 00 01 11 10 x3x4 y1 1 1 0 0 0 0 1 1 01 11 10 1 0 1 0 0 0 1 0 x1 x2 00 00 01 11 10 x3x4 y3 1 0 1 0 0 1 1 1 01 11 10 1 0 0 0 0 1 1 1 x1 x2 00 00 01 11 10 x3x4 y2 1 0 0 0 0 0 1 1 01 11 10 01 10 10 10 11 10 00 01 x1 x2 00 00 01 11 10 x3x4 c1 c2 00 10 11 11 10 00 00 01 11 10 10

Universaalsete testidega testitav PAL/PLA.: 

Universaalsete testidega testitav PAL/PLA. AND OR . . . . . . . . . x 1 x n y1 y2 y k c1 c2 s1 sm . . . sm+1 Paarsus kontroll z1 Lisa liin Paarsus kontroll Lisa liin z2 Termide valik Modifitseeritud sisendite dekooder Modifitseeritud sisendite dekooder 1 1 1 b2i-1 b2i xi c1 c2 Maatriksit saab testida ilma, et oleks vaja teada kuidas ta on programmeeritud. Testimine ei toimu reaalajas.

Universaalsed testid.: 

Universaalsed testid. em = 0, if m is odd (paaritu) 1, if m is even (paaris) Testide pikkkus on 1 + m + n kus m on termide arv ja n on sisendite arv.

A built-in Self-Testable PLA with Cumulative Parity Comparision: 

A built-in Self-Testable PLA with Cumulative Parity Comparision AND (kasutatud CP-de arv peab igal liinil olema paaritu) OR (kasutatud CP-de arv peab igal liinil olema paaritu) . . . . . . . . . x 1 x n y1 y2 y k c1 c2 s1 sm . . . sm+1 Lisa liin Paarsus kontroll Lisa liin Termide valik Modifitseeritud sisendite dekooder xor T D z Idee: lastes läbi universaalsed testid (n+m+1 ) võtab triger iga test jada järgi eelmisega vastupidise väärtuse.

Signatuuri kasutavad meetodid.: 

Signatuuri kasutavad meetodid. LFSR - Linear Feedback Shift Register T T + T T + Signatuur analüsaator Signature Analyzer T T + T T + + + Paralleelne. Järjestikune T T T T + + Signaal kontrollitavast objektist Signaalid kontrollitavast objektist

Slide24: 

Puhver AND OR . . . . . . . . . x 1 x 2 x n y1 y2 y m LFSR (pseudo juhuslike arvude generaator) Signatuur analüsaator I Signatuur analüsaator II Pseudo juhuslike arvude generaatori asemel võib kasutada testidena ka kõiki võimalikkke sisend kombinatsioone

PLA/PAL with BILBO-s.: 

PLA/PAL with BILBO-s. BILBO – Built-in Logic-Block Observer LFSR mida saab panna tööle kas pseudo juhuslike arvude generaatorina või signatuur analüsaatorina valides vastava reziimi. Puhver AND OR . . . . . . y1 y2 y m BILBO I BILBO II BILBO III . . . x 1 x 2 x n

Veel testitavuse parandamiseks kasutatavaid meetodeid: 

Veel testitavuse parandamiseks kasutatavaid meetodeid